由北京理化分析测试技术学会光谱分会主办，清华大学、北京大学、中国科学院化学研究所、国家重有色金属质量检验检测中心、中国检验检测学会测试装备分会协办，北京理化分析测试技术学会承办的“第四届全国光谱大会”于2025年5月8日至12日在湖南省郴州市举办。本次大会吸引了来自全国高校、科研机构和企业单位200余位相关人员现场参会。 岛津携新发布的分析仪器高灵敏度能量色散X射线荧光光谱仪ALTRACE亮相了本次大会。
近年来，光谱分析前沿技术不断涌现，助力了科学研究向前推进，也为解决经济发展中涌现的实际问题贡献了力量。随着各种新的应用场景的出现，新需求也在不断反推光谱技术的进步。全国光谱大会旨在凝聚国内光谱界同仁的力量，分享最新光谱分析技术与应用成果、交流面临的困境与机遇、探讨光谱人才队伍建设，促进光谱分析基础研究和应用技术的发展。
岛津企业管理（中国）有限公司分析计测事业部市场部方瑛女士应邀在大会上介绍了岛津高灵敏度能量色散X射线荧光光谱仪ALTRACE新品。从超高灵敏度、超高通量和无需复杂前处理三个特点展示了ALTRACE相对于传统EDXRF的显著提升之处。详细介绍了ALTRACE测试不同样品的低检出限，48位带机械臂的自动进样器，以及与精密化学相比可摆脱繁复前处理的简易测试流程。在现场引起广泛关注，尤其是一线分析人员，对ALTRACE的强大性能和广阔应用前景表现出强烈兴趣。
